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CIF等离子体汽化接枝仪
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纽迈低场核磁表面接枝率测定仪
表面接枝率测定仪是一种用于测量二氧化硅纳米颗粒表面上接枝分子或聚合物的含量或密度的仪器。它可以评估材料表面的功能化程度和接枝效果。
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等离子体汽化接枝仪表面处理仪CIF
CIF等离子体汽化接枝仪(CPV-G)为等离子体表面处理设备的配套设备,其主要作用是将液态原料汽化后,以一定的流量输入等离子体表面处理仪的反应腔内,用于进行材料表面的接枝和沉积。该设备适用于各种
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XelPleX 全自动表面等离子体共振成像仪
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HORIBA OpenPlex 开放式表面等离子体共振成像仪
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等离子体表面处理仪
仪器简介:通过等离子体与固体表面的相互作用,消除固体表面的有机污染物,固体如: 金属、陶瓷、玻璃、硅片等等,同时可以用等离子处理系统对样品表面进行 处理,改善样品表面的特性,如亲水/疏水
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SBC-2型试样表面处理机
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等离子体表面改性处理仪
ZYHD-2型冷等离子体表面改性处理仪 一、仪器介绍 ZYHD-2型冷等离子体材料改性设备为垂直或横卧式的冷等离子体处理设备,其工作原理同ZYHD-1型原理相同,均是利用放电
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安东帕AutoflowBET+ 比表面仪
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安东帕AutoflowBET+比表面仪
通过对1-3个独立分析站进行任意组合,Autoflow比表面仪完全可以满足您测试分析通量的需求。多种精密技术的采用,使每个分析单元都可获得更精准的结果:(a) 内置高精度质量流量计,无需预配混气
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